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應(yīng)用領(lǐng)域

IGBT驅(qū)動(dòng)電路保護(hù)設(shè)計(jì)(適用于MOS管)-KIA MOS管

信息來(lái)源:本站 日期:2024-05-30 

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IGBT驅(qū)動(dòng)電路保護(hù)設(shè)計(jì)(適用于MOS管)-KIA MOS管


IGBT的理想等效電路及實(shí)際等效電路如下圖所示:

IGBT是由一個(gè)N溝道的MOS管FET和一個(gè)PNP型GTR組成,以GTR為主導(dǎo)器件,MOS管為驅(qū)動(dòng)器件。GiantTransistor-GTR電力晶體管。這也導(dǎo)致其性能上與MOS管有所差異。


注意區(qū)域的劃分與MOS管不一樣,從其結(jié)構(gòu)原理區(qū)理解,下圖中1為截止區(qū),2為線性區(qū)(退飽和區(qū)),3為飽和區(qū)(電壓飽和),4位雪崩擊穿區(qū)。開(kāi)關(guān)狀態(tài)工作在飽和區(qū)和截止區(qū)。

短路保護(hù)

短路有兩種,直通短路(短路電流迅速上升,迅速進(jìn)入退飽和區(qū))和負(fù)載短路(短路電流逐漸上升)。

區(qū)分:IGBT退飽和區(qū)類似與MOS管的恒流區(qū),期望工作在飽和區(qū),在退飽和區(qū)其損耗會(huì)成倍增加。


什么情況下IGBT會(huì)進(jìn)入退飽和狀態(tài)?--退飽和一般發(fā)生在器件短路時(shí)。


假如有一種工況,Ic持續(xù)增大,當(dāng)大到一定程度,這個(gè)時(shí)候Vce增加很快,但I(xiàn)c上升速率變慢,IGBT便進(jìn)入了退飽和區(qū),即紅色方框右邊的區(qū)域,這個(gè)區(qū)域有兩個(gè)顯著的特點(diǎn):Vce和Ic的乘積非常大,也就是損耗功率很大,往往超過(guò)10us就會(huì)燒壞,很危險(xiǎn);飽和區(qū)電流與Vge成正相關(guān),即Vge大的話,進(jìn)入飽和區(qū)的電流也會(huì)大一點(diǎn),下圖也可以看出來(lái)。

當(dāng)發(fā)生短路直通時(shí),電流急劇增加導(dǎo)致IGBT會(huì)迅速進(jìn)入退飽和區(qū),其兩端的電壓VCE會(huì)迅速達(dá)到直流母線電壓;而流過(guò)IGBT的電流IC,會(huì)達(dá)到額定電流的4倍甚至更多,取決于IGBT的類型及門極電壓。


這時(shí),IGBT所消耗的功率,會(huì)瞬時(shí)達(dá)到兆瓦級(jí)。如果不能在很短的時(shí)間內(nèi)減小短路電流,IGBT會(huì)因?yàn)樾酒^(guò)熱而燒毀。


然而,如果短路時(shí)的關(guān)斷速度像正常關(guān)斷一樣快,會(huì)產(chǎn)生很大的di/dt,由于寄生電感的存在,該di/dt會(huì)在IGBT兩端帶來(lái)很大的電壓尖峰,使得IGBT過(guò)壓擊穿。


為了解決短路時(shí)巨大的關(guān)斷尖峰,可引入了軟關(guān)斷技術(shù)。在IGBT發(fā)生短路直通時(shí),在保證短路時(shí)間不超過(guò)10us的前提下,通過(guò)緩慢的降低門極電壓VGE,既保證了IGBT芯片不會(huì)因?yàn)檫^(guò)溫?zé)龤В灿行Ы档土薲i/dt,避免了關(guān)斷時(shí)的電壓尖峰,保證了IGBT的安全。

上圖左邊發(fā)生短路,右邊軟關(guān)斷。粉紅色為Vce,藍(lán)色為Vge,綠色為Ic;

圖中Vce沒(méi)有降到0,說(shuō)明IGBT未完全開(kāi)通即進(jìn)入退飽和,屬于第一種短路類型。


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