?MOSFET性能改進：RDS(ON)的決定因素-KIA MOS管
信息來源：本站 日期：2022-04-01
（1）MOSFET器件結(jié)構(gòu)將根據(jù)要求的耐受電壓來選擇。確定導(dǎo)通電阻RDS(ON)的因素如圖3-7和方程式3-（1）所示。根據(jù)器件的結(jié)構(gòu)，決定導(dǎo)通電阻的因素比例將發(fā)生變化。
（2）例如，許多中高壓MOSFET（250V及以上）具有平面MOS（π-MOS）結(jié)構(gòu)，而小于200V的產(chǎn)品大多具有溝槽MOS（U-MOS）結(jié)構(gòu)。因此，當耐受電壓VDSS＝600V時，Rdrift成為主導(dǎo)因素，當耐受電壓是30V時，因素Rch的比例較高。
圖3-7（a）D-MOS的導(dǎo)通電阻決定因素
圖3-7（b）溝槽MOS的導(dǎo)通電阻決定因素
RDS(ON）＝Rsub＋Rdrift＋RJ-FET＋Rch＋RN＋
RDS(ON)＝Rsub＋Rdrift＋Rch＋RN＋???方程式3-（1）
如果是VDSS＝600V，順序為Rdrift >> Rch > RJ-FET，RN+，Rsub和RDS(ON)取決于Rdrift
如果是VDSS＝30V，順序為Rch >> Rdrift > RN+，Rsub。溝槽MOS結(jié)構(gòu)的精細圖形化可以最大限度降低RDS(ON)對Rch的依賴性。
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